- 測(cè)量方法：
- X射線(xiàn)
- 產(chǎn)地：
- 德國(guó)
| 測(cè)量方法 | X射線(xiàn) |
| 產(chǎn)地 | 德國(guó) |
| 電壓 | 12V |
| 類(lèi)型 | 鍍層測(cè)厚儀 |
| 適用范圍 | 金屬鍍層測(cè)厚 |
| 外形尺寸 | 802-800-601 |
| 重量 | 120 |
| 屏幕色彩 | 彩色 |
| 品牌 | 菲希爾 |
| 質(zhì)量認(rèn)證 | ROHS |
XAN系列測(cè)厚儀
XAN? 系列儀器適合測(cè)量和分析超薄鍍層，即使鍍層成分復(fù)雜或含量微小也都能測(cè)量。該系列產(chǎn)品簡(jiǎn)單易用且性?xún)r(jià)比高，因此在同類(lèi)產(chǎn)品中脫穎出。
特性： 操作簡(jiǎn)單且性?xún)r(jià)比高。 自下而上進(jìn)行測(cè)量，從而快速、簡(jiǎn)便地定位樣品 廣泛適用：為各個(gè)行業(yè)的需求量身定制了多種型號(hào) 以非破壞性方式進(jìn)行鍍層厚度測(cè)量與元素分析 帶有高性能 X 射
線(xiàn)管和高靈敏度的硅漂移探測(cè)器 (SDD)的機(jī)型，可對(duì)薄鍍層及微量成分進(jìn)行精測(cè)量 應(yīng)用： 鍍層厚度測(cè)量 厚度僅為幾納米的貴金屬鍍層 時(shí)尚首飾：對(duì)代鎳鍍層等新工藝多鍍層系統(tǒng)進(jìn)行分析 抗磨損鍍層，如：對(duì)化學(xué)鎳鍍層的厚度及磷含量進(jìn)行測(cè)量 測(cè)試納米級(jí)基礎(chǔ)金屬化層（凸點(diǎn)下金屬化層，UBM） 材料分析 測(cè)定黃金首飾等貴金屬、手表和硬幣的成分與純度 專(zhuān)業(yè)實(shí)驗(yàn)室、檢測(cè)機(jī)構(gòu)以及科研院校中常規(guī)材料分析 依據(jù) RoHS、WEEE、CPSIA 以及其他準(zhǔn)則，檢測(cè)電子元件、包裝以及消費(fèi)品中不合要求的物質(zhì)（例如重金屬） 功能性鍍層的成分，如測(cè)定化學(xué)鎳中的磷含量
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